DATA COLLECTION SYSTEM AND METHOD THAT DETECT ELECTRONIC DEVICE DISPLAYS VIA FRESNEL PATTERNS

A control subsystem determines based on the characteristics of light from a secondary illumination source reflected off optics of a data collection device whether a display screen of an electronic device (e.g., smartphone, smartwatch, tablet computer) are in a field of view of the data collection device, and switches operational modes accordingly. Thus, the control subsystem can employ a Fresnel pattern for such determination. The data collection device can operate in a diffuse reading mode, characterized by active illumination and/or relatively fast exposure times. The data collection device can operate in a reflective reading mode, characterized by a lack of active illumination and/or relatively slow exposure times. Characteristics can include the number of reflections versus a number of air-substrate interfaces and/or a relative intensity of the reflections produced by successive air-substrate interfaces in a path of the light. L'invention concerne un sous-système de commande qui détermine, sur la base des caractéristiques d'une lumière issue d'une source d'éclairement secondaire réfléchie par l'optique d'un dispositif de collecte de données, si un écran d'affichage d'un dispositif électronique (par exemple, un téléphone intelligent, une montre intelligente, un ordinateur tablette) se trouve dans un champ de vision du dispositif de collecte de données, et qui commute par conséquent des modes de fonctionnement. Ainsi, le sous-système de commande peut faire appel à un diagramme de Fresnel pour une telle détermination. Le dispositif de collecte de données peut fonctionner dans un mode de lecture diffuse, caractérisé par un éclairement actif et/ou des temps d'exposition relativement rapides. Le dispositif de collecte de données peut fonctionner dans un mode de lecture par réflexion, caractérisé par un manque d'éclairement actif et/ou des temps d'exposition relativement lents. Des caractéristiques peuvent comprendre le nombre de réflexions par rapport à un nombre d'interfaces air-substrat et/ou à une intensité relative des réflexions produites par des interfaces air-substrat successives dans un trajet de la lumière.