AUTOMATED FTIR SPECTROMETER

Disclosed here is a system for placing a sample (803) at a predefined measurement location for measuring an optical property of that sample. The apparatus comprises a measurement platform (202) for supporting the sample at the measurement location, the measurement platform having an orifice (209) therein beneath the measurement location, and a nozzle (111) configured to retain the sample therein when a vacuum is applied to the nozzle. The sample is contacted by the nozzle, and a vacuum is applied to the nozzle so that the sample is retained therein by air pressure. The nozzle with the sample retained therein is then transported to the measurement location. The vacuum at the nozzle is disabled to release the sample from the nozzle, and a vacuum is applied to the orifice in the measurement platform so as to retain the sample on the measurement platform. The nozzle is then retracted away from the measurement platform. L'invention concerne un système pour placer un échantillon (803) à un emplacement de mesure prédéfini afin de mesurer une propriété optique dudit échantillon. L'appareil comprend une plate-forme de mesure (202) pour porter l'échantillon au niveau de l'emplacement de mesure, la plate-forme de mesure comportant en son sein un orifice (209) situé au-dessous de l'emplacement de mesure, et une buse (111) conçue pour retenir l'échantillon en son sein lorsqu'on fait le vide dans la buse. L'échantillon est mis en contact avec la buse, et on fait le vide dans la buse de telle sorte que l'échantillon est retenu à l'intérieur de cette dernière par la pression de l'air. La buse avec l'échantillon retenu en son sein est ensuite transportée vers l'emplacement de mesure. On défait le vide dans la buse pour libérer l'échantillon de la buse, et on fait le vide dans l'orifice de la plate-forme de mesure de façon à retenir l'échantillon sur la plate-forme de mesure. La buse est ensuite rétractée de la plate-forme de mesure.