INSPECTION PATH DISPLAY

An inspection system, in an embodiment, can be operable with a probe and a position tracker to inspect an object. The system can be operable to display at least one probe travel axis, receive first and second inspection values from the probe, associate the first inspection value with a first position point, and associate the second inspection value with a second position point. The system displays an inspection path based on the associations. The inspection path extends relative to the probe travel axis. L'invention concerne, selon un mode de réalisation, un système d'inspection qui peut être mis en œuvre à l'aide d'une sonde et d'un dispositif de suivi de position pour inspecter un objet. Le système peut être utilisé pour afficher au moins l'axe de déplacement d'une sonde, pour recevoir des première et seconde valeurs d'inspection depuis la sonde, pour associer la première valeur d'inspection avec un premier point de position et pour associer la seconde valeur d'inspection avec un second point de position. Le système affiche un trajet d'inspection sur la base des associations. Le trajet d'inspection se prolonge par rapport à l'axe de déplacement de la sonde.