NETWORK DISCOVERY AND BEAM ACQUISITION FOR BEAM CELL OPERATION

A user equipment (UE) can process signals including a first synchronization signal (SS) and a second SS. The first SS and the second SS are beamformed with transmit beams and transmitted on subbands in a first set of symbols, for the first SS, and a second set of symbols, for the second SS. The UE c...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: JUNG, Hyejung, BALERCIA, Tommaso, CARRENO BAUTISTA DE LISBONA, Xavier, DAVYDOV, Alexei
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A user equipment (UE) can process signals including a first synchronization signal (SS) and a second SS. The first SS and the second SS are beamformed with transmit beams and transmitted on subbands in a first set of symbols, for the first SS, and a second set of symbols, for the second SS. The UE can detect the first SS in the first set of symbols, and measure beam qualities of the transmit beams on the subbands in at least one of the first set of symbols or the second set of symbols. The UE can select one or more transmit beams and corresponding one or more subbands based on the measured beam qualities. The UE can detect the second SS on the selected subbands in the second set of symbol, and each of subbands in the first and second sets of symbols is associated with a transmit beam. Selon l'invention, un équipement utilisateur (UE) peut traiter des signaux comprenant un premier signal de synchronisation (SS) et un second SS. Le premier SS et le second SS subissent une formation de faisceau avec des faisceaux d'émission et sont émis sur des sous-bandes dans un premier ensemble de symboles, pour le premier SS, et un second ensemble de symboles, pour le second SS. L'UE peut détecter le premier SS dans le premier ensemble de symboles, et mesurer des qualités de faisceau des faisceaux d'émission sur les sous-bandes dans au moins l'un du premier ensemble de symboles ou du second ensemble de symboles. L'UE peut sélectionner un ou plusieurs faisceaux d'émission et une ou plusieurs sous-bandes correspondantes sur la base des qualités de faisceau mesurées. L'UE peut détecter le second SS sur les sous-bandes sélectionnées dans le second ensemble de symboles, et chacune des sous-bandes dans les premier et second ensembles de symboles est associée à un faisceau d'émission.