DEVICE AND SYSTEM FOR OPTICAL MEASUREMENT OF THE REFLECTION COEFFICIENT OF A SURFACE
The present invention relates to a novel device for the optical measurement of the reflection coefficient of a surface (1), which comprises: one or more optical channels, each channel comprising a plurality of LEDs (2) for emitting a beam of light at one or more wavelengths; a first photodetector (4...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; spa |
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Zusammenfassung: | The present invention relates to a novel device for the optical measurement of the reflection coefficient of a surface (1), which comprises: one or more optical channels, each channel comprising a plurality of LEDs (2) for emitting a beam of light at one or more wavelengths; a first photodetector (4) for measuring the beam of direct light from the LEDs in the optical channel; a diaphragm (5) situated at the outlet of the optical light channel, to limit the opening of the outlet of the light beam; a lens (6) disposed to receive the beam reflected on the surface (1) and to focus the beam; and a second photodetector (8) for measuring the signal of the light beam reflected by the surface (1) to be measured. The device of the invention is able to minimise the quantity of diffuse light present in the measurement without losing a high intrinsic tolerance of the measurement in the face of different curvatures and different mirror thicknesses, without needing to perform any additional adjustment to the device.
La presente invención se refiere a un novedoso dispositivo de medida óptica del coeficiente de reflexión de una superficie (1), que comprende: uno o más canales ópticos, donde cada canal comprende una pluralidad de LEDs (2) para la emisión de un haz de iluminación en una o más longitudes de onda; un primer fotodetector (4) para la medición del haz de iluminación directa de los LEDs en el canal óptico; un diafragma (5) situado a la salida del canal óptico de iluminación, para limitar la apertura de salida del haz de iluminación; una lente (6) dispuesta para recibir el haz reflejado en la superficie (1) y para focalizar dicho haz; y un segundo fotodetector (8) para medir la señal del haz de iluminación reflejado por la superficie (1) a medir. El dispositivo de la invención es capaz de minimizar la cantidad de luz difusa presente en la medida sin perder una tolerancia intrínseca alta de la medida frente a diferentes curvaturas y diferentes espesores de espejos, sin necesidad de realizar ningún ajuste adicional en dicho dispositivo.
La présente invention concerne un dispositif innovant de mesure optique du coefficient de réflexion d'une surface (1), ledit dispositif comprenant un ou plusieurs canaux optiques comprenant chacun une pluralité de DEL (2) pour l'émission d'un faisceau d'éclairage dans une ou plusieurs longueurs d'onde ; un premier photodétecteur (4) destiné à mesurer le faisceau d'éclairage direct des DEL dans le canal optique d'éclairage; un diaphrag |
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