COUNTING STACKED PLANAR SUBSTRATES

Devices and methods for counting planar substrates stacked on a first plane are disclosed. Image capturing sensors are arranged collinearly in a manner substantially perpendicular to the first plane. The image capturing sensors are configured to capture images of portions of counting sides of the stacked planar substrates. The image capturing sensors are configured so that the images captured by every two consecutive image capturing sensors comprise an overlapping portion of the stacked planar substrates. L'invention concerne des dispositifs et des procédés pour compter des substrats plans empilés sur un premier plan. Des capteurs de capture d'image sont agencés de manière colinéaire d'une manière sensiblement perpendiculaire au premier plan. Les capteurs de capture d'image sont configurés pour capturer des images de parties de côtés de comptage des substrats plans empilés. Les capteurs de capture d'image sont configurés de telle sorte que les images capturées par chaque capteur de capture d'image consécutif comprennent une partie de chevauchement des substrats plans empilés.