SPECTROPHOTOMETER
The invention relates to a spectrophotometer, especially a spectrophotometer that can carry out simultaneous analysis at different points on the same sample (4), with a high spatial resolution and without requiring a mechanical system for physical scanning along the sample. This is obtained by the p...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; spa |
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Zusammenfassung: | The invention relates to a spectrophotometer, especially a spectrophotometer that can carry out simultaneous analysis at different points on the same sample (4), with a high spatial resolution and without requiring a mechanical system for physical scanning along the sample. This is obtained by the provision of means for processing the light received by the photodetectors (5), said processing means having a correlation wherein each of the photodetectors (5) corresponds to a spatial point on the sample (4). In the case of dark field applications, the present invention ensures the standardisation of the data using the same measure.
Se da a conocer un espectrofotómetro, en particular, a un espectrofotómetro con capacidad de análisis simultáneo en diferentes puntos de una misma muestra (4) disponiendo de una alta resolución espacial y sin requerir un sistema mecánico de barrido físico a lo largo de la muestra. Esto se consigue mediante la disposición de medios de procesamiento de la luz recibida por los fotodetectores (5) disponiendo dichos medios de procesamiento de una correlación en la que cada uno de los fotodetectores (5) corresponde a un punto espacial de la muestra (4). La presente invención garantiza en el caso de aplicaciones de campo oscuro la normalización de los datos utilizando la misma medida.
L'invention concerne un spectrophotomètre, et notamment un spectrophotomètre à capacité d'analyse simultanée à différents points d'un même échantillon (4), présentant une haute résolution spatiale et ne nécessitant pas de système mécanique de balayage physique le long de l'échantillon. Pour ce faire, on utilise des moyens de traitement de la lumière reçue par les photodétecteurs (5), lesdits moyens de traitement étant caractérisés par une corrélation selon laquelle chacun des photodétecteurs (5) correspond à un point spatial de l'échantillon (4). Dans le cas d'applications à champ obscur, la présente invention garantit la normalisation des données au moyen de la même mesure. |
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