COPPER POWDER

The copper powder according to the present invention has an X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) spectrum, which is obtained by measuring the surface of copper particles using an X-ray photoelectron spectroscope, in which the ratio P2/(P1+P0), which is the ratio of the peak intensity P1 of Cu(I) and the peak intensity P0 of Cu(0) to the peak intensity P2 of Cu(II), is 0.15-1. The proportional content of oxygen is preferably 0.15-1.2 mass%. The volume accumulation particle diameter D50 at an accumulation volume of 50 vol.%, as measured by the light scattering particle sizing technique, is preferably 0.3-10 µm. Selon la présente invention, cette poudre de cuivre présente un spectre de spectroscopie photoélectronique X (XPS) qui est obtenu par mesure de la surface de particules de cuivre à l'aide d'un spectroscope photoélectronique X, dans lequel le rapport P2/(P1+P0), qui est le rapport de l'intensité de crête P1 de Cu (I) et de l'intensité P0 de Cu(0) avec l'intensité de crête P2 de Cu(II), est de 0,15-1. La teneur proportionnelle en oxygène est de préférence de 0,15-1,2 % en masse. Le diamètre de particules d'accumulation volumique D50 au niveau d'un volume d'accumulation de 50 % en volume, tel que mesuré par la technique de classement granulométrique de particules par diffusion de lumière, est de préférence de 0,3-10 µm. 本発明の銅粉は、Ｘ線光電子分光装置（ＸＰＳ）を用いて銅粒子の表面を測定して得られるＸ線光電子分光スペクトルにおいて、Ｃｕ（II）のピーク強度Ｐ２に対する、Ｃｕ（I）のピーク強度Ｐ１及びＣｕ（０）のピーク強度Ｐ０の比率であるＰ２／（Ｐ１＋Ｐ０）の値が０．１５以上１以下である。酸素の含有割合が、０．１５質量％以上１．２質量％以下であることが好適である。レーザー回折散乱式粒度分布測定法による累積体積５０容量％における体積累積粒径Ｄ50が、０．３μｍ以上１０μｍ以下であることも好適である。