X-RAY DEVICE AND STRUCTURE MANUFACTURING METHOD

In the present invention, an X-ray device is provided with: an X-ray source that emits X-rays as a result of an electron beam reaching a target; a detection unit that detects X-rays which have been emitted from the X-ray source and have passed through a measurement object; and an X-ray source contro...

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1. Verfasser: SAKAGUCHI, NAOSHI
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; jpn
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creator SAKAGUCHI, NAOSHI
description In the present invention, an X-ray device is provided with: an X-ray source that emits X-rays as a result of an electron beam reaching a target; a detection unit that detects X-rays which have been emitted from the X-ray source and have passed through a measurement object; and an X-ray source control unit that controls the output of X-rays emitted from the X-ray source on the basis of the configuration information on the measurement object. Selon la présente invention, un dispositif à rayons X est pourvu : d'une source de rayons X qui émet des rayons X en conséquence d'un faisceau d'électrons atteignant une cible ; d'une unité de détection qui détecte les rayons X qui ont été émis à partir de la source de rayons X et qui sont passés par un objet de mesure ; et d'une unité de commande de source de rayons X qui commande la sortie de rayons X émis par la source de rayons X sur la base des informations de configuration sur l'objet de mesure.  X線装置は、電子線がターゲットに到達することによりX線を放射するX線源と、X線源から放射され、被測定物を通過したX線を検出する検出部と、被測定物の構成情報に基づいて、X線源から放射されるX線の出力を制御するX線源制御部とを備える。
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Selon la présente invention, un dispositif à rayons X est pourvu : d'une source de rayons X qui émet des rayons X en conséquence d'un faisceau d'électrons atteignant une cible ; d'une unité de détection qui détecte les rayons X qui ont été émis à partir de la source de rayons X et qui sont passés par un objet de mesure ; et d'une unité de commande de source de rayons X qui commande la sortie de rayons X émis par la source de rayons X sur la base des informations de configuration sur l'objet de mesure.  X線装置は、電子線がターゲットに到達することによりX線を放射するX線源と、X線源から放射され、被測定物を通過したX線を検出する検出部と、被測定物の構成情報に基づいて、X線源から放射されるX線の出力を制御するX線源制御部とを備える。</description><language>eng ; fre ; jpn</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2016</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20160114&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2016006085A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25543,76293</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20160114&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2016006085A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SAKAGUCHI, NAOSHI</creatorcontrib><title>X-RAY DEVICE AND STRUCTURE MANUFACTURING METHOD</title><description>In the present invention, an X-ray device is provided with: an X-ray source that emits X-rays as a result of an electron beam reaching a target; a detection unit that detects X-rays which have been emitted from the X-ray source and have passed through a measurement object; and an X-ray source control unit that controls the output of X-rays emitted from the X-ray source on the basis of the configuration information on the measurement object. Selon la présente invention, un dispositif à rayons X est pourvu : d'une source de rayons X qui émet des rayons X en conséquence d'un faisceau d'électrons atteignant une cible ; d'une unité de détection qui détecte les rayons X qui ont été émis à partir de la source de rayons X et qui sont passés par un objet de mesure ; et d'une unité de commande de source de rayons X qui commande la sortie de rayons X émis par la source de rayons X sur la base des informations de configuration sur l'objet de mesure.  X線装置は、電子線がターゲットに到達することによりX線を放射するX線源と、X線源から放射され、被測定物を通過したX線を検出する検出部と、被測定物の構成情報に基づいて、X線源から放射されるX線の出力を制御するX線源制御部とを備える。</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2016</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNCP0A1yjFRwcQ3zdHZVcPRzUQgOCQp1DgkNclXwdfQLdXMEsT393BV8XUM8_F14GFjTEnOKU3mhNDeDsptriLOHbmpBfnxqcUFicmpeakl8uL-RgaGZgYGZgYWpo6ExcaoAovUm-A</recordid><startdate>20160114</startdate><enddate>20160114</enddate><creator>SAKAGUCHI, NAOSHI</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20160114</creationdate><title>X-RAY DEVICE AND STRUCTURE MANUFACTURING METHOD</title><author>SAKAGUCHI, NAOSHI</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2016006085A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; jpn</language><creationdate>2016</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SAKAGUCHI, NAOSHI</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SAKAGUCHI, NAOSHI</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>X-RAY DEVICE AND STRUCTURE MANUFACTURING METHOD</title><date>2016-01-14</date><risdate>2016</risdate><abstract>In the present invention, an X-ray device is provided with: an X-ray source that emits X-rays as a result of an electron beam reaching a target; a detection unit that detects X-rays which have been emitted from the X-ray source and have passed through a measurement object; and an X-ray source control unit that controls the output of X-rays emitted from the X-ray source on the basis of the configuration information on the measurement object. Selon la présente invention, un dispositif à rayons X est pourvu : d'une source de rayons X qui émet des rayons X en conséquence d'un faisceau d'électrons atteignant une cible ; d'une unité de détection qui détecte les rayons X qui ont été émis à partir de la source de rayons X et qui sont passés par un objet de mesure ; et d'une unité de commande de source de rayons X qui commande la sortie de rayons X émis par la source de rayons X sur la base des informations de configuration sur l'objet de mesure.  X線装置は、電子線がターゲットに到達することによりX線を放射するX線源と、X線源から放射され、被測定物を通過したX線を検出する検出部と、被測定物の構成情報に基づいて、X線源から放射されるX線の出力を制御するX線源制御部とを備える。</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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