SEGMENTATION AND SPECTRUM BASED METAL ARTIFACT REDUCTION METHOD AND SYSTEM

A segmentation-and-spectrum-based metal artifact reduction (MAR) system and method is applied in polychromatic X-ray CT system that uses a priori knowledge of high-Z metals in samples which contribute the primary artifacts at a known x-ray energy spectrum. Using a basis materials decomposition, the...

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Hauptverfasser: HUANG, ZHIFENG, CASE, THOMAS A
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A segmentation-and-spectrum-based metal artifact reduction (MAR) system and method is applied in polychromatic X-ray CT system that uses a priori knowledge of high-Z metals in samples which contribute the primary artifacts at a known x-ray energy spectrum. Using a basis materials decomposition, the method solves the problem of reducing or eliminating metal artifacts associated with beam hardening using only a single scan of the sample performed at selected x-ray energy. L'invention porte sur un système et un procédé de réduction d'artéfacts métalliques (MAR) à base de segmentation et de spectre, qui sont appliqués dans un système CT à rayons X polychromatique qui utilise une connaissance a priori de métaux à Z élevé dans des échantillons qui contribuent aux artéfacts primaires à un spectre d'énergie de rayons X connu. À l'aide d'une décomposition de matériaux de base, le procédé résout le problème de réduction ou d'élimination d'artéfacts métalliques associés à un durcissement par faisceau en utilisant seulement un balayage unique de l'échantillon réalisé à une énergie de rayons X sélectionnée.