SURFACE PLASMON ENHANCED FLUORESCENCE MEASUREMENT DEVICE AND SURFACE PLASMON ENHANCED FLUORESCENCE MEASUREMENT METHOD

The present invention pertains to a surface plasmon enhanced fluorescence analysis device and a surface plasmon enhanced fluorescence measurement method which use GC-SPFS and make it possible to detect a substance to be detected with high sensitivity. This surface plasmon enhanced fluorescence measurement device has: a light source for irradiating the diffraction grating of a chip with excited light; a polarizer for removing linearly polarized light from fluorescent light emitted from a fluorescent substance on the diffraction grating; and a photodetector for detecting the linearly polarized light removed by the polarizer. L'invention concerne un dispositif d'analyse par fluorescence améliorée par plasmons de surface, ainsi qu'un procédé de mesure de fluorescence associé mettant en oeuvre une chromatographie en phase gazeuse-spectroscopie par fluorescence améliorée par champ de plasmon de surface (GC-SPFS) et permettant de détecter une substance à détecter avec une sensibilité élevée. Le dispositif de mesure selon l'invention comprend : une source de lumière destinée à irradier le réseau de diffraction d'une puce avec une lumière d'excitation ; un polariseur destiné à éliminer la lumière polarisée linéairement de la lumière fluorescente émise par une substance fluorescente sur le réseau de diffraction; et un photodétecteur destiné à détecter la lumière polarisée linéairement éliminée par le polariseur. 本発明は、被検出物質を高感度に検出することができる、ＧＣ－ＳＰＦＳを利用する表面プラズモン増強蛍光分析装置および表面プラズモン増強蛍光測定方法に関する。表面プラズモン増強蛍光測定装置は、励起光をチップの回折格子に照射する光源と、回折格子上の蛍光物質から放出された蛍光から直線偏光の光を取り出す偏光子と、前記偏光子により取り出された前記直線偏光の光を検出する光検出部と、を有する。