ELECTROPHYSIOLOGY SYSTEM

Radio frequency (RF) ablation systems and methods for using the radio frequency ablation systems are disclosed. The RF ablation system may include an elongated member, an RF generator, and a processor. The elongated member may include a distal portion including one or more electrodes and the RF gene...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: KOBLISH, JOSEF V
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Radio frequency (RF) ablation systems and methods for using the radio frequency ablation systems are disclosed. The RF ablation system may include an elongated member, an RF generator, and a processor. The elongated member may include a distal portion including one or more electrodes and the RF generator may be operatively coupled to one or more of the electrodes. The processor, which may be coupled to one or more of the electrodes, may obtain an output signal from the electrodes and may monitor changes in an elevation of an ST segment of one or more electrogram (EGM) readings of the obtained output signal. The processor may determine a level of one or more characteristics that are proportional to an elevated ST segment of EGM. L'invention concerne des systèmes d'ablation par radiofréquence (RF) et des procédés destinés à utiliser les systèmes d'ablation par radiofréquence. Le système d'ablation RF peut comprendre un élément allongé, un générateur de RF et un processeur. L'élément allongé peut comporter une partie distale comprenant une ou plusieurs électrodes et le générateur de RF peut être couplé de manière opérationnelle à une ou plusieurs des électrodes. Le processeur, qui peut être couplé à une ou plusieurs des électrodes, peut obtenir un signal de sortie provenant des électrodes et peut surveiller des changements dans une élévation d'un segment ST d'une ou de plusieurs lectures d'électrogramme (EGM) du signal de sortie obtenu. Le processeur peut déterminer un niveau d'une ou de plusieurs caractéristiques qui sont proportionnelles à un segment ST élevé d'EGM.