OPTICAL PARTICLE ANALYSIS

A system (10, 20) and method for determining particle size, shape, and/or quantity. The particle (14) can alter the polarization state of two oppositely-polarized light beams (4a, 4b) from two polarized light emitters (13a, 13b), thus allowing the light beams to interfere with each other. An interference pattern (6) from interference of the two light beams can be captured by a CCD (15). The interference pattern can be analyzed to determine size, shape, and/or quantity. La présente invention concerne un système (10, 20) et un procédé de détermination de la taille, de la forme et/ou de la quantité de particules. La particule (14) peut modifier l'état de polarisation de deux faisceaux lumineux polarisés de manière opposée (4a, 4b) issus de deux émetteurs de lumière polarisée (13a, 13b), permettant ainsi aux faisceaux lumineux d'interférer l'un avec l'autre. Un motif d'interférence (6) de l'interférence des deux faisceaux lumineux peut être capturé par un CCD (15). Le motif d'interférence peut être analysé pour déterminer la taille, la forme, et/ou la quantité.