METHODS FOR TESTING AND CHARACTERIZING LED LIGHTING DEVICES
Systems and methods for characterizing solid state lighting devices are provided. In certain examples, systems and methods for measuring various parameters of light emitting diodes (LEDs), characterizing each LED based on the measured parameters and selecting one or more of the characterized LEDs su...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | Systems and methods for characterizing solid state lighting devices are provided. In certain examples, systems and methods for measuring various parameters of light emitting diodes (LEDs), characterizing each LED based on the measured parameters and selecting one or more of the characterized LEDs such that the emitted light from each of the selected LEDs is mixed with the light from the other selected LEDs to create a desired overall light output are described.
L'invention concerne des systèmes et des procédés permettant de caractériser des dispositifs d'éclairage à semi-conducteurs. Selon certains exemples, l'invention porte sur des systèmes et sur des procédés permettant de mesurer divers paramètres des diodes électroluminescentes (DEL), de caractériser chaque DEL sur la base des paramètres mesurés et de sélectionner une ou plusieurs DEL caractérisées de telle sorte que la lumière émise de chaque DEL sélectionnée soit mélangée avec la lumière émise des autres DEL sélectionnées afin de créer tout un flux lumineux souhaité. |
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