CLOSED LOOP DYNAMIC CAPACITANCE MEASUREMENT

This disclosure provides systems, methods and apparatus for measuring capacitance of a display unit, such as an interferometric modulator (IMOD). In one example, a circuit may include an operational amplifier (op-amp), a voltage controlled current source, and feedback from an output of the op-amp as...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: VAN LIER, WILHELMUS JOHANNES ROBERTUS, KAWAMOTO, ROBERT STEVEN, EDGAR, JAMES STEVEN, VARMA, PRAMOD KUMAR
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:This disclosure provides systems, methods and apparatus for measuring capacitance of a display unit, such as an interferometric modulator (IMOD). In one example, a circuit may include an operational amplifier (op-amp), a voltage controlled current source, and feedback from an output of the op-amp as an input to the voltage controlled current source. An output of the voltage controlled current source may be provided to a display unit as well as an input of the op-amp. A second input of the op-amp may be provided a ramping reference voltage. L'invention concerne des systèmes, des procédés et un appareil permettant de mesurer la capacité d'une unité d'affichage, telle qu'un modulateur interférométrique (IMOD). Selon un exemple, un circuit peut comprendre un amplificateur opérationnel (op-amp), une source de courant commandée en tension et des informations de rétroaction provenant d'une sortie de l'amplificateur opérationnel sous la forme d'une entrée à la source de courant commandée en tension. Une sortie de la source de courant commandée en tension peut être transmise à une unité d'affichage ainsi qu'à une entrée de l'amplificateur opérationnel. Une seconde entrée de l'amplificateur opérationnel peut présenter une tension de référence en dents de scie.