IMPROVING PLENOPTIC CAMERA RESOLUTION

According to various embodiments, the system and method disclosed herein facilitate the design of plenoptic camera lens systems to enhance camera resolution. A first configuration for the plenoptic camera may first be selected, with a first plurality of variables that define attributes of the plenop...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: MYHRE, GRAHAM BUTLER, CRADDOCK, CARL WARREN, PITTS, COLVIN, NG, YI-REN, LIANG, CHIA-KAI
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:According to various embodiments, the system and method disclosed herein facilitate the design of plenoptic camera lens systems to enhance camera resolution. A first configuration for the plenoptic camera may first be selected, with a first plurality of variables that define attributes of the plenoptic camera. The attributes may include a main lens attribute of a main lens of the plenoptic camera and/or a phase mask attribute of a phase mask of the plenoptic camera. A merit function may be applied by simulating receipt of light through the main lens and the plurality of microlenses of the first configuration to calculate a first merit function value. The main lens attribute and/or the phase mask attribute may be iteratively perturbed, and the merit function may be re-applied. An optimal set of variables may be identified by comparing results of successive applications of the merit function. Selon divers modes de réalisation, la présente invention concerne un système et un procédé qui facilitent la conception de systèmes de lentilles d'appareils photo plénoptiques pour renforcer la résolution de l'appareil photo. Une première configuration pour l'appareil photo plénoptique peut être sélectionnée d'abord, avec une première pluralité de variables qui définissent des attributs de l'appareil photo plénoptique. Les attributs peuvent inclure un attribut de lentille principale d'une lentille principale de l'appareil photo plénoptique et/ou un attribut de masque de phase d'un masque de phase de l'appareil photo plénoptique. Une fonction de mérite peut être appliquée en simulant la réception de lumière à travers la lentille principale et la pluralité de microlentilles de la première configuration pour calculer une première valeur de fonction de mérite. L'attribut de lentille principale et/ou l'attribut de masque de phase peuvent être perturbés itérativement, et la fonction de mérite peut être réappliquée. Un ensemble optimal de variables peut être identifié en comparant les résultats d'applications successives de la fonction de mérite.