NONCONTACT SENSING OF MAXIMUM OPEN-CIRCUIT VOLTAGES

An apparatus for noncontact sensing of a voltage response characteristic and/or maximum open-circuit voltage (MOCV) of photovoltaic semiconductor specimens includes a high intensity wide spectrum light source adapted to emit light through a conductive probe tip; the conductive probe tip is situated in spatial relationship with a vacuum chuck to form a capacitive specimen wafer interrogation space upon which specimen wafers are located; the high intensity light source emits light through the conductive probe tip, said light impinges a specimen wafer located within the interrogation space, and voltage response across the probe tip, wafer interrogation space, and vacuum chuck is amplified and recorded. La présente invention a trait à un appareil pour la détection sans contact d'une caractéristique de réponse en tension et/ou de la tension maximale en circuit ouvert (MOCV) d'échantillons de semi-conducteurs photovoltaïques. L'appareil comprend une source de lumière à large spectre et à haute intensité qui est conçue pour émettre de la lumière par le biais d'une pointe de sonde conductrice. La pointe de sonde conductrice se trouve en relation spatiale avec un plateau de maintien à vide afin de former un espace d'interrogation de tranches d'échantillon capacitif sur lequel des tranches d'échantillon se situent. La source de lumière à haute intensité émet de la lumière par le biais de la pointe de sonde conductrice, ladite lumière arrive sur une tranche d'échantillon se trouvant dans l'espace d'interrogation, et la réponse en tension de la pointe de sonde, de l'espace d'interrogation de tranches et du plateau de maintien à vide est amplifiée et enregistrée.