SYSTEM FOR MEASURING CORTICAL THICKNESS FROM MR SCAN INFORMATION
A measurement apparatus (800) to measure cortical thickness, the measurement apparatus may include at least one controller (810) which may be configured to: obtain magnetic resonance (MR) scan information of a region-of-interest of at least a portion of a cerebral cortex of a subject; form first, se...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A measurement apparatus (800) to measure cortical thickness, the measurement apparatus may include at least one controller (810) which may be configured to: obtain magnetic resonance (MR) scan information of a region-of-interest of at least a portion of a cerebral cortex of a subject; form first, second and third meshes each comprising a plurality of points situated apart from each other, the first and third meshes being situated at inner and outer cortical boundary layers, respectively, of the cerebral cortex and the second mesh being situated between the first and third meshes; and/or for each of a plurality of points of the second mesh: determine a closest point of the first mesh and a closest point of the third mesh, determine a distance between the corresponding closest point of the first mesh and the corresponding closest point of the third mesh, said distance being corresponding with a cortical thickness.
La présente invention porte sur un appareil (800) de mesure destiné à mesurer une épaisseur corticale, l'appareil de mesure peut comprendre au moins un dispositif de commande (810) qui peut être configuré pour : obtenir des informations de balayage de résonance magnétique (RM) d'une région d'intérêt d'au moins une partie d'un cortex cérébral d'un sujet ; former des premier, deuxième et troisième maillages comprenant chacun une pluralité de points situés séparés les uns des autres, les premier et troisième maillages étant situés au niveau de couches de limite corticale intérieure et extérieure, respectivement, du cortex cérébral, et le deuxième maillage étant situé entre les premier et troisième maillages ; et/ou pour chacun d'une pluralité de points du deuxième maillage : déterminer un point le plus proche du premier maillage et un point le plus proche du troisième maillage, déterminer une distance entre le point le plus proche correspondant du premier maillage et le point le plus proche correspondant du troisième maillage, ladite distance correspondant à une épaisseur corticale. |
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