CRITICAL SYSTEM AND ASSOCIATED MONITORING METHOD
This critical system comprises a control pathway (COM) comprising an actuation unit (120) having a nonlinear behaviour, which is able to be controlled by application of an input quantity u and whose state is characterized by an output quantity y. The behaviour of the actuation unit (120) being descr...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | This critical system comprises a control pathway (COM) comprising an actuation unit (120) having a nonlinear behaviour, which is able to be controlled by application of an input quantity u and whose state is characterized by an output quantity y. The behaviour of the actuation unit (120) being described by a flat nonlinear model, the system comprises an estimation unit having: - a module (134) for linearization by dynamic inversion able, on the basis of the measured output quantity, to calculate the input quantity of the equivalent linear model;- a module (136) for estimating a flat output quantity (I) on the basis of the input quantity of the equivalent linear model; and - a module (138) for calculating a residual on the basis of the estimated flat output quantity (I) and of a measured flat output quantity z, corresponding to the measured output quantity.
Ce système critique comporte une voie de commande (COM) comportant une unité d'actionnement (120) ayant un comportement non-linéaire, qui est propre à être commandée par application d'une grandeur d'entrée u et dont l'état est caractérisé par une grandeur de sortie y. Le comportement de l'unité d'actionnement (120) étant décrit par un modèle non-linéaire plat, le système comporte une unité d'estimation ayant : - un module (134) de linéarisation par inversion dynamique propre, à partir de la grandeur de sortie mesurée, à calculer la grandeur d'entrée du modèle linéaire équivalent; - un module (136) d'estimation d'une grandeur de sortie plate (I) à partir de la grandeur d'entrée du modèle linéaire équivalent; et, - un module (138) de calcul d'un résidu à partir de la grandeur de sortie plate estimée (I) et d'une grandeur de sortie plate mesurée z, correspondant à la grandeur de sortie mesurée. |
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