SUB-PIXEL ANALYSIS AND DISPLAY OF FINE GRAINED MINERAL SAMPLES

Method and apparatus for analysis and display of fine grained mineral samples. A portion of the sample is illuminated with a charged particle beam. Emitted radiation is detected, and a sample emission spectrum is generated and fit with a plurality of standard emission spectra of minerals in a candidate mineral composition. A mineral composition whose emission spectrum best fits the sample emission spectrum is selected from a plurality of candidate mineral compositions. An assigned color is received for each mineral in the selected mineral composition, and the assigned colors are blended according to the proportion of each mineral in the selected mineral composition. An image pixel corresponding to the portion of the sample is rendered for display. L'invention concerne un procédé et un appareil pour l'analyse et l'affichage d'échantillons minéraux à grains fins. Une portion de l'échantillon est illuminée avec un faisceau particulaire chargé. La radiation émise est détectée, et un spectre d'émission de l'échantillon est généré et ajusté à une pluralité de spectres d'émission standards de minéraux dans une composition minérale candidate. Une composition minérale dont le spectre d'émission s'ajuste au mieux au spectre d'émission de l'échantillon est choisie parmi une pluralité de compositions minérales candidates. Une couleur attribuée est reçue pour chaque minéral dans la composition minérale choisie, et les couleurs attribuées sont mélangées selon la proportion de chaque minéral dans la composition minérale choisie. Un pixel d'image correspondant à la portion de l'échantillon est rendu pour l'affichage.