LIT METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING MATERIAL LAYER PARAMETERS OF A SAMPLE

Determining material parameters of a sample using lock-in thermography (LIT. Applying a non-harmonic test signal to the electrical circuit of the sample layer and imaging the sample layer using infrared sensor to obtain IR images of the sample layer while the non-harmonic test signal is applied to the electrical circuit; detecting a thermal response signal obtained from the imaging being in correlation to thermal heat propagation within the sample layer; subjecting the response signal to a fast Fourier transformation (FFT) to break down the response signal into a frequency spectrum containing at least first and second harmonics signals of a base harmonic sine or cosine signal as frequency specific response signals at multiple specific frequencies; determining the phase shifts of the frequency specific response signals at the multiple specific frequencies at a heat source position; and obtaining a frequency vs, phase shift curve. La présente invention concerne la détermination de paramètres de matériau d'un échantillon au moyen de la thermographie active modulée (« lock-in », LIT). Celle-ci comprend l'application d'un signal de test non harmonique au circuit électrique de la couche d'échantillon et l'imagerie de la couche d'échantillon au moyen d'un capteur infrarouge pour obtenir des images IR de la couche d'échantillon tandis que le signal de test non harmonique est appliqué au circuit électrique; la détection d'un signal de réponse thermique obtenu à partir de l'imagerie étant en corrélation avec la propagation de chaleur thermique dans la couche d'échantillon; la soumission du signal de réponse à une transformée de Fourier rapide (FFT) pour décomposer le signal de réponse en un spectre de fréquence contenant au moins des premier et deuxième signaux harmoniques d'un signal sinusoïdal ou cosinusoïdal harmonique de base en tant que signaux de réponse de fréquence spécifique à des fréquences spécifiques multiples; la détermination des déphasages des signaux de réponse de fréquence spécifique aux fréquences spécifiques multiples à une position de source de chaleur; et l'obtention d'une courbe de fréquence en fonction du déphasage.