SAW MODE-BASED SURFACE DEFECT SYSTEM/METHOD

Various approaches for assessing a part for a defect are disclosed and that are based upon SAW modes. In one embodiment, a part-under-test (120) is excited. One or more SAW modes (206) are identified in the frequency response (240/260) of the part-under-test (120). A SAW mode area (248/266) in the f...

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1. Verfasser: JAURIQUI, LEANNE
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Various approaches for assessing a part for a defect are disclosed and that are based upon SAW modes. In one embodiment, a part-under-test (120) is excited. One or more SAW modes (206) are identified in the frequency response (240/260) of the part-under-test (120). A SAW mode area (248/266) in the frequency response of the part- under-test (120) is compared with a baseline SAW mode area (238/258) of a baseline frequency response (230/250) (and which may be associated with an acceptable part). This comparison may be used to determine if the part- under-test (120) may be characterized defective in at least some respect. La présente invention concerne diverses approches d'évaluation d'une partie par rapport à un défaut basées sur des modes SAW. Dans un mode de réalisation, une partie à l'essai (120) est excitée. Un ou plusieurs modes SAW (206) sont identifiés dans la réponse en fréquence (240/260) de la partie à l'essai (120). Une zone de modes SAW (248/266) dans la réponse en fréquence de la partie à l'essai (120) est comparée à une zone de modes SAW de référence (238/258) d'une réponse en fréquence de référence (230/250) (et qui peut être associée à une partie acceptable). Cette comparaison peut être utilisée pour déterminer si la partie à l'essai (120) peut être caractérisée comme défectueuse selon au moins un aspect.