STRAIN MAPPING IN TEM USING PRECESSION ELECTRON DIFFRACTION

A sample material is scanned with a transmission electron microscope (TEM) over multiple steps having a predetermined size at a predetermined angle. Each scan at a predetermined step and angle is compared to a template, wherein the template is generated from parameters of the material and the scanni...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	TAHERI, MITRA LENORE, LEFF, ASHER CALVIN
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ELECTRICITY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER,MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	A sample material is scanned with a transmission electron microscope (TEM) over multiple steps having a predetermined size at a predetermined angle. Each scan at a predetermined step and angle is compared to a template, wherein the template is generated from parameters of the material and the scanning. The data is then analyzed using local mis-orientation mapping and/or Nye's tensor analysis to provide information about local strain states. Selon l'invention, un matériau échantillon est balayé avec un microscope électronique à transmission (MET) par de multiples passages ayant une taille prédéterminée à un angle prédéterminé. Chaque balayage selon un passage et un angle prédéterminés est comparé à un modèle, le modèle étant généré à partir de paramètres du matériau et du balayage. Les données sont ensuite analysées à l'aide d'une cartographie de désorientation locale et/ou d'une analyse du tenseur de Nye pour fournir des informations concernant des états de contrainte locaux.