WELDING PORTION INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD THEREFOR

Welding laser beam is irradiated along welding trajectories set in works, or inspection laser beam is irradiated along scanning trajectories set in a molten pool in the works which has been melted by the welding laser beam. Return light including reflected light from the molten pool in the work, eva...

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1. Verfasser: KOBAYASHI, HIROOMI
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Welding laser beam is irradiated along welding trajectories set in works, or inspection laser beam is irradiated along scanning trajectories set in a molten pool in the works which has been melted by the welding laser beam. Return light including reflected light from the molten pool in the work, evaporation luminescence generated by melting/evaporating of the work and thermal radiation light radiated from the molten pool in the work is received. A fundamental frequency is detected by conducting Fourier transform on the intensity of the received return light and a welding condition of the welding portion in the work is inspected based on an amplitude under the fundamental frequency and an amplitude under a frequency that is twice as high as the fundamental frequency. L'invention concerne notamment un procédé au cours duquel un faisceau laser de soudage est irradié le long de trajectoires de soudage définies dans des pièces, ou un faisceau laser de contrôle est irradié le long de trajectoires de balayage définies dans un bain de fusion des pièces qui a été mis en fusion par le faisceau laser de soudage. Une lumière renvoyée comprenant une lumière réfléchie en provenance du bain de fusion de la pièce, une luminescence d'évaporation générée par la fusion/l'évaporation de la pièce et une lumière de rayonnement thermique rayonnée à partir du bain de fusion de la pièce, est reçue. Une fréquence fondamentale est détectée en réalisant une transformation de Fourier sur l'intensité de la lumière renvoyée reçue, et un état de soudure de la partie soudée de la pièce est contrôlé en se basant sur une amplitude en-dessous de la fréquence fondamentale et sur une amplitude en-dessous d'une fréquence deux fois supérieure à la fréquence fondamentale.