METHOD AND MONITORING DEVICE FOR MONITORING A STRUCTURE

The invention relates to a method for monitoring a structure (1), by which a first medium (2) is capable of being separated from a second medium (3). The first medium (2) exerts a higher pressure on the structure (1) than the second medium (3). At least a first sensor (4) and at least one second se...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: PYAYT, ALEXANDER LEONIDOVICH, MOKHOV, ILYA IGOREVICH, KOZIONOV, ALEXEY PIETROVICH
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:The invention relates to a method for monitoring a structure (1), by which a first medium (2) is capable of being separated from a second medium (3). The first medium (2) exerts a higher pressure on the structure (1) than the second medium (3). At least a first sensor (4) and at least one second sensor (5) capture each at least one physical quantity concerning this structure (1). Between these physical quantities there exists a dependency. To a computing device (6) measured values (7, 8) concerning the corresponding physical quantities are transmitted. The computing device (6) is configured to model on the basis of the measured value (7) of the first sensor (4) a data value (9) of the second sensor and to use the modeled data value (9) and the measured value (8) of the second sensor (5) for assessment of the structure (1). L'invention porte sur un procédé pour surveiller une structure (1), par lequel procédé un premier milieu (2) est apte à être séparé à partir d'un second milieu (3). Le premier milieu (2) exerce sur la structure (1) une pression supérieure à celle du second milieu (3). Au moins un premier capteur (4) et au moins un second capteur (5) capturent chacun au moins une quantité physique concernant cette structure (1). Entre ces quantités physiques existe une dépendance. Des valeurs mesurées (7, 8) concernant les quantités physiques correspondantes sont transmises à un dispositif de calcul (6). Le dispositif de calcul (6) est configuré de façon à modéliser, sur la base de la valeur mesurée (7) du premier capteur (4), une valeur de données (9) du second capteur, et à utiliser la valeur de données modélisée (9) et la valeur mesurée (8) du second capteur (5) pour l'estimation de la structure (1).