SENSOR SELF-TEST

A crystal self-test circuit (100, 200) is used to self-test either an acoustic emission crystal (110) or a vibration crystal (211) installed onto one of a bearing (150), a bearing housing (160), and a machine (170). A crystal self-test circuit (100, 200) includes a multiplexer IC (120, 220), which toggles between a pulse injection configuration and a signal collection configuration. In the pulse injection configuration, the multiplexer IC (120, 220) provides signal communication between a crystal self-test input (122, 222) and the sensing emission crystal (110, 211). In the signal collection configuration, the multiplexer IC (120, 220) provides signal communication between the sensing emission crystal (110, 211) and a signal analyzer (126, 226). In operation, the multiplexer IC (120, 220) applies a waveform (preferably a square wave) to the sensing emission crystal (110, 211) over a predetermined time period. The multiplexer IC (120, 220) then toggles to collect the output waveform from the sensing emission crystal (110, 211) and forwards the output waveform to the signal analyzer (126, 226). The output signal can be amplified by a signal amplifier (130, 231). L'invention porte sur un circuit de test automatique de cristal (100, 200) utilisé pour tester automatiquement soit un cristal d'émission acoustique (110) ou un cristal de vibrations (211) installé sur l'un d'un roulement (150), un logement de roulement (160), et une machine (170). Un circuit de test automatique de cristal (100, 200) comprend un multiplexeur de circuit intégré (120, 220), qui bascule entre une configuration d'injection d'impulsion et une configuration de collecte de signaux. Dans la configuration d'injection d'impulsion, le multiplexeur de circuit intégré (120, 220) produit une communication de signaux entre une entrée de test automatique de cristal (122, 222) et le cristal capteur d'émission (110, 211). Dans la configuration de collecte de signaux, le multiplexeur de circuit intégré (120, 220) produit une communication de signaux entre le cristal capteur d'émission (110, 211) et un analyseur de signal (126, 226). En fonctionnement, le multiplexeur de circuit intégré (120, 220) applique une forme d'onde (de préférence une onde carrée) sur le cristal capteur d'émission (110, 211) pendant une période de temps prédéterminée. Le multiplexeur de circuit intégré (CI) (120, 220) bascule ensuite pour collecter la forme d'onde de sortie du cristal capteur d'émission (110, 211) et transmet la