METHOD AND APPARATUS FOR DEVICE TESTING USING MULTIPLE PROCESSING PATHS

According to some aspects, a method of operating an automatic test system comprising a plurality of paths and programmed with a test pattern is provided. One such method comprises executing vectors in the test pattern with circuitry comprising a plurality of paths, the executing comprising upon proc...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: CHAMPION, CORBIN, L, DONAHUE, MARK, B, PANE, JOHN, R
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:According to some aspects, a method of operating an automatic test system comprising a plurality of paths and programmed with a test pattern is provided. One such method comprises executing vectors in the test pattern with circuitry comprising a plurality of paths, the executing comprising upon processing, in a first of the plurality of paths, the operation portion of a vector specifying an operation capable of generating a branch in the flow of execution of the vectors in the test pattern to a non- sequential location in the test pattern, initiating processing of the test pattern in a second of the plurality of paths from the non- sequential location. Some aspects include a system for executing instructions comprising a plurality of paths comprising control circuitry to initiate processing of operation portions from sequential locations of a memory within an available path of the plurality of paths. Selon certains aspects, la présente invention concerne un procédé de fonctionnement d'un système de test automatique comprenant une pluralité de voies et programmé avec une séquence de test. Ledit procédé consiste à exécuter des vecteurs dans la séquence de test dotée de circuit comprenant une pluralité de voies, l'exécution consistant lors du traitement, dans une première voie parmi la pluralité de voies, en la partie de fonctionnement d'un vecteur spécifiant une opération pouvant générer une branche dans le flux d'exécution des vecteurs dans la séquence de test vers un emplacement non séquentiel dans la séquence de test, à commencer le traitement de la séquence de test dans une seconde voie parmi la pluralité de voies à partir de l'emplacement non séquentiel. Certains aspects comprennent un système destiné à exécuter des instructions comprenant une pluralité de voies comprenant un circuit de commande pour commencer le traitement des parties de fonctionnement à partir des emplacements séquentiels d'une mémoire à l'intérieur d'une voie disponible parmi la pluralité de voies.