METHODS AND SYSTEMS FOR STRUCTURAL ANALYSIS

The present disclosure provides systems and methods for analyzing a structure. A method for analyzing a structure comprises capturing a at least one set of images of the structure in at least one range of wavelengths of light with an image capture device mounted on a vehicle. The at least one set of...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: PHAN, LONG, SINGH, NAVI, CHEN, LIANG, BARDAGJY, ANDREW, LEFMAN, JONATHAN, JESNECK, JONATHAN, DUNCAN, STORM, SALESSES, MARK, PHILIP
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:The present disclosure provides systems and methods for analyzing a structure. A method for analyzing a structure comprises capturing a at least one set of images of the structure in at least one range of wavelengths of light with an image capture device mounted on a vehicle. The at least one set of images can be processed to provided at least one set of image data. The at least one set of image data can be combined with separate data to form a combined data set. The combined set of data can be analyzed to determine one or more properties of the structure. La présente invention concerne des procédés et des systèmes pour analyser une structure. Un procédé d'analyse de structure consiste à capturer au moins un ensemble d'images de la structure dans au moins une plage de longueurs d'onde de lumière avec un dispositif de capture d'image monté sur un véhicule. Le ou les ensembles d'images peuvent être traités pour fournir au moins un ensemble de données d'image. Le ou les ensembles de données d'image peuvent être combinés avec des données séparées pour former un ensemble de données combinées. L'ensemble de données combinées peut être analysé pour déterminer une ou plusieurs propriétés de structure.