PROBE SUPPORT APPARATUS
Employed is a probe support apparatus having: a base stand; an arm connected to an upper end of the base stand so that the arm can be tilted and rotated in a horizontal direction; and a probe support section connected to a distal end of the arm at a side opposite that of a portion connected to the b...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | Employed is a probe support apparatus having: a base stand; an arm connected to an upper end of the base stand so that the arm can be tilted and rotated in a horizontal direction; and a probe support section connected to a distal end of the arm at a side opposite that of a portion connected to the base stand. The probe support section is constituted by a deformable section and a non-deformable section, and the non-deformable section is connected to a distal end of the arm so that the non-deformable section can rotate about an axis parallel to a rotation axis about which the arm is tilted.
L'invention concerne un appareil de support de sonde ayant : un pied de base ; un bras relié à une extrémité supérieure du pied de base de telle sorte que le bras peut être incliné et tourné dans une direction horizontale ; et une section de support de sonde reliée à une extrémité distale du bras sur un côté faisant face à celui d'une partie reliée au pied de base. La section de support de sonde est composée d'une section déformable et d'une section non déformable, et la section non déformable est reliée à une extrémité distale du bras de telle sorte que la section non déformable peut tourner autour d'un axe parallèle à un axe de rotation autour duquel est incliné le bras. |
---|