SUBSTITUTE REDUNDANT MEMORY

An integrated circuit (IC) chip for transparent and in-service or production repair of single to multiple memory cell defects in a word during the datapath transit of the word between core memory to the interface of the IC via capturing an accurate bit from a word during a write access to a known de...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SIKDAR, DIPAK, K, CHOPRA, RAJESH
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:An integrated circuit (IC) chip for transparent and in-service or production repair of single to multiple memory cell defects in a word during the datapath transit of the word between core memory to the interface of the IC via capturing an accurate bit from a word during a write access to a known defective memory address, and by substituting in a non-defective bit into the word during a read access from a known defective memory address. The IC includes: address matching circuit (CAM), a random access memory (RAM) of substitute memory cells containing accurate associated bit data and bit location in word of defect, and data selection circuitry (MUXs) coupled together. L'invention concerne une puce de circuit intégré (IC) permettant une réparation transparente en service ou en production de défauts de cellules mémoire simples ou multiples dans un mot pendant le transit du chemin de données du mot entre la mémoire principale et l'interface de l'IC en capturant un bit précis à partir d'un mot lors d'un accès en écriture à une adresse mémoire défectueuse connue, et en substituant un bit non défectueux dans le mot lors d'un accès en lecture à partir d'une adresse mémoire défectueuse connue. L'IC comprend : un circuit d'appariement d'adresses (CAM), une mémoire à accès aléatoire (RAM) de cellules mémoire de substitution contenant les données du bit associé précis et l'emplacement du bit dans le mot défectueux, et un circuit de sélection de données (MUX) couplé à ces éléments.