SURFACE MEASUREMENT APPARATUS AND METHOD

In a metrological apparatus a stylus (11) is deflected as a stylus tip of the stylus follows surface variations along a measurement path on a surface of a workpiece and a transducer (39) provides measurement data in a measurement coordinate system. A data processor is configured to: determine a relationship between the measurement data in the measurement coordinate system and nominal surface data representing the expected surface characteristic of the workpiece in a workpiece coordinate system; simulate a measurement data set for the nominal surface using the nominal surface data and the determined relationship, the simulation providing a simulated measurement data set having a simulated range of simulated measurement values; if the simulated range does not meet a given criterion, adjust a selected measurement data value for a selected measurement point and repeat the simulation to determine an adjusted measurement data value for which the simulated range meets the given criterion; and determine measurement start conditions required for a measurement procedure to provide the adjusted measurement data value for the selected measurement point. Dans un appareil métrologique, un stylet (11) est dévié lorsqu'un embout du stylet suit les variations de surface le long d'un chemin de mesure sur une surface d'une pièce, et un transducteur (39) fournit des données de mesure dans un système de coordonnées de mesure. Un processeur de données est configuré pour : déterminer une relation entre les données de mesure dans le système de coordonnées de mesure et des données de surface nominale représentant la caractéristique de surface escomptée de la pièce dans un système de coordonnées de pièce ; simuler un ensemble de données de mesure pour la surface nominale au moyen des données de surface nominale et de la relation déterminée, la simulation fournissant un ensemble de données de mesure simulées ayant une plage simulée de valeurs de mesure simulées ; si la plage simulée ne remplit pas un critère donné, ajuster une valeur de donnée de mesure sélectionnée pour un point de mesure sélectionné et répéter la simulation pour déterminer une valeur de donnée de mesure ajustée pour laquelle la plage simulée remplit le critère donné ; et déterminer des conditions de début de mesure nécessaires à une procédure de mesure pour fournir la valeur de donnée de mesure ajustée pour le point de mesure sélectionné.