DELAY MEASUREMENT DEVICE, METHOD, AND PROGRAM FOR ELECTRONIC CIRCUIT, AS WELL AS MEDIUM

The objective of the present invention, in one aspect, is to suppress the scale of a circuit which measures the delay time of an electronic circuit of a specific portion of a semiconductor circuit and the like. In the present invention, at the start of measurement, a control signal is input to a control terminal (20) from a start signal imparting unit (50), and a pulse of a pulse width corresponding to the delay time of the circuit to be measured is output from a chopper circuit (14) which includes the circuit to be measured. A delay circuit (12) reduces the pulse width by a predetermined width, and the pulse is chopped by the chopper circuit (14) and input again into the delay circuit (12). The pulse is counted by a counter circuit (16). A calculation unit (52) computes the delay time Tw of the circuit to be measured on the basis of the count value and the pulse width reduction time of the delay circuit (12). By providing the chopper circuit (14) which includes the circuit to be measured, it is possible to measure the delay time. Selon un aspect, la présente invention a pour but de supprimer l'échelle d'un circuit qui mesure le temps de retard d'un circuit électronique d'une partie spécifique d'un circuit semi-conducteur et analogue. Dans la présente invention, au début de la mesure, un signal de commande est entré dans un terminal de commande (20) à partir d'une unité de transmission de signal de début (50), et une impulsion d'une largeur d'impulsion correspondant au temps de retard du circuit à mesurer est émise à partir d'un circuit hacheur (14) qui comprend le circuit à mesurer. Un circuit de retard (12) réduit la largeur d'impulsion d'une largeur prédéterminée, et l'impulsion est hachée par le circuit hacheur (14) et entrée de nouveau dans le circuit de retard (12). L'impulsion est comptée par un circuit compteur (16). Une unité de calcul (52) calcule le temps de retard Tw du circuit à mesurer sur la base de la valeur de comptage et du temps de réduction de largeur d'impulsion du circuit de retard (12). Par fourniture du circuit hacheur (14) qui comprend le circuit à mesurer, il est possible de mesurer le temps de retard.