METHODS AND APPARATUS TO DETECT A CONDUCTIVE OBJECT
A method and apparatus scan a first capacitive sensor element that is located in a first scan region for a presence of a conductive object and then scan a second capacitive sensor element that is located in a second scan region for the presence of the conductive object. The scan of the first capacit...
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| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| Zusammenfassung: | A method and apparatus scan a first capacitive sensor element that is located in a first scan region for a presence of a conductive object and then scan a second capacitive sensor element that is located in a second scan region for the presence of the conductive object. The scan of the first capacitive sensor element includes applying a ground voltage to a ground element through the second capacitive sensor element, the ground element located in the first scan region.
Un procédé et un appareil selon l'invention balaient un premier élément de détection capacitif qui est situé dans une première région de balayage afin de détecter la présence d'un objet conducteur, et balaient ensuite un second élément de détection capacitif qui est situé dans une seconde région de balayage pour détecter la présence de l'objet conducteur. Le balayage du premier élément de détection capacitif consiste à appliquer une tension de terre à un élément de terre par le biais du second élément de détection capacitif, l'élément de terre étant situé dans la première région de balayage. |
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