METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING THE TEMPERATURE OF A SEMICONDUCTOR CHIP

The invention regards a method for estimating the temperature of a semiconductor chip accommodated in a power semiconductor device in operation, such as an IGBT power module, the method comprising the steps of; while the power semiconductor device is in operation determining a voltage drop over the power semiconductor device for a value of applied load current and; estimating the temperature of the semiconductor chip by evaluating the relationship between the determined voltage drop and the value of applied load current on the basis of a semiconductor chip temperature model. The invention also regards the corresponding apparatus for estimating the temperature of a semiconductor chip, as well as a wind turbine comprising such an apparatus. Cette invention concerne un procédé d'évaluation de la température d'une puce semi-conductrice dans un dispositif semi-conducteur de puissance en service, tel qu'un module de puissance IGBT. Ledit procédé comprend les étapes consistant à déterminer, pendant le fonctionnement du dispositif semi-conducteur, une chute de tension au niveau dudit dispositif semi-conducteur pour une valeur de courant de charge appliqué et à évaluer la température de la puce semi-conductrice par évaluation de a relation entre la chute de tension déterminée et la valeur du courant de charge appliqué, sur la base d'un modèle de température de puce semi-conductrice. L'invention concerne également le dispositif correspondant pour estimer la température d'une puce semi-conductrice, de même qu'une éolienne comprenant un tel dispositif.