FLUORESCENCE MEASUREMENT METHOD

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fluoreszenzmessung, mit den Schritten: Einstrahlen von Anregungsstrahlung (24) einer Anregungswellenlänge (?1) auf ein zu vermessendes Objekt (14), wobei das zu vermessende Objekt (14) fluoreszierendes Material (12) enthält, ortsaufgelöstes Messen einer Fluor...

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1. Verfasser: HAGEN, AXEL
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fluoreszenzmessung, mit den Schritten: Einstrahlen von Anregungsstrahlung (24) einer Anregungswellenlänge (?1) auf ein zu vermessendes Objekt (14), wobei das zu vermessende Objekt (14) fluoreszierendes Material (12) enthält, ortsaufgelöstes Messen einer Fluoreszenzstrahlungs-Intensität (I34) von Fluoreszenzstrahlung (34), die von der Anregungsstrahlung (24) im Objekt (14) hervorgerufen wurde und zumindest eine Fluoreszenzwellenlänge (?3) hat, Einstrahlen einer Hilfsstrahlung (30) mit zumindest einer Hilfsstrahlungswellenlänge (?2) auf das zu vermessende Objekt (14), wobei die Hilfsstrahlungswellenlänge (?2) größer ist als die Anregungswellenlänge (?1), ortsaufgelöstes Ermitteln einer Hilfsstrahlungs-Intensität (I30) gestreuter Hilfsstrahlung (30) und Ermitteln eines ortsaufgelösten Parameters (P), der ein Maß für die Konzentration (c) an fluoreszierendem Material (12) ist, aus der Fluoreszenzstrahlungs-lntensität (I34) und der Hilfsstrahlungs-Intensität (I30), wobei das ortsaufgelöste Ermitteln der Hilfsstrahlungs-Intensität (I30) und das ortsaufgelöstes Messen der Fluoreszenzstrahlungs-Intensität (I34) ein Unterdrücken von gestreuter Anregungsstrahlung (24) umfasst. The invention relates to a fluorescence measurement method having the following steps: irradiating excitation radiation (24) with an excitation wavelength (?1) onto an object (14) to be measured, said object (14) to be measured containing fluorescent material (12); measuring a fluorescent radiation intensity (I34) of fluorescent radiation (34) in a spatially resolved manner, said fluorescent radiation having been caused by the excitation radiation (24) in the object (14) and having at least one fluorescence wavelength (?3); irradiating an auxiliary radiation (30) with at least one auxiliary radiation wavelength (?2) onto the object (14) to be measured, said auxiliary radiation wavelength (?2) being greater than the excitation wavelength (?1); ascertaining an auxiliary radiation intensity (I30) of scattered auxiliary radiation (30) in a spatially resolved manner; and ascertaining a spatially resolved parameter (P), which is a measurement of the concentration (c) of fluorescent material (12), from the fluorescent radiation intensity (I34) and the auxiliary radiation intensity (I30). The steps of ascertaining the auxiliary radiation intensity (I30) in a spatially resolved manner and measuring the fluorescent radiation intensity (I34) in a spatially resolve