ADAPTING A SCAN MOTION IN AN X-RAY IMAGING APPARATUS
According to one embodiment, the x-ray apparatus comprises an x-ray source adapted to emit an x-ray beam, a detector adapted to receive the x-ray beam of the x-ray source, wherein the x-ray source is adapted to be moved in relation to a first portion of the x-ray apparatus, wherein the detector is a...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | According to one embodiment, the x-ray apparatus comprises an x-ray source adapted to emit an x-ray beam, a detector adapted to receive the x-ray beam of the x-ray source, wherein the x-ray source is adapted to be moved in relation to a first portion of the x-ray apparatus, wherein the detector is adapted to be moved in relation to a first portion of the x-ray apparatus, the x-ray apparatus further comprising a control unit for controlling the movement of the x-ray source and detector, wherein the x-ray source and the detector are adapted to rotate in relation to a first portion of the x-ray apparatus, wherein further the x-ray beam is directed essentially towards the detector during the movement of the x-ray source and the detector.
Selon une forme de réalisation de la présente invention, l'appareil à rayons X comprend une source de rayons X conçue pour émettre un faisceau de rayons X, un détecteur conçu pour recevoir le faisceau de rayons X provenant de la source de rayons X, ladite source de rayons X étant conçue pour être déplacée par rapport à une première partie de l'appareil à rayons X. Le détecteur est conçu pour être déplacé par rapport à la première partie de l'appareil à rayons X, l'appareil à rayons X comprenant également une unité de commande servant à commander le déplacement de la source de rayons X et le détecteur,ladite source de rayons X et le détecteur étant conçus pour tourner par rapport à une première partie de l'appareil à rayons X et ledit faisceau de rayons X étant dirigé sensiblement en direction du détecteur pendant le déplacement de la source de rayons X et du détecteur. |
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