HIGH PRESSURE BEVEL ETCH PROCESS

A method of bevel edge processing a semiconductor in a bevel plasma processing chamber in which the semiconductor substrate is supported on a semiconductor substrate support is provided. The method comprises evacuating the bevel etcher to a pressure of 3 to 100 Torr and maintaining RF voltage under...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: FANG, TONG, KIM, YUNSANG, S, FISCHER, ANDREAS
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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