SYSTEM AND METHOD FOR MONITORING PV DEVICE

Disclosed are method and system for tracking characteristics of atleast an individual solar cell, during a manufacturing process. The method comprises the steps of: making atleast a first measurement of atleast a first characteristic the solar cell; incorporating atleast said individual solar cell in atleast one of a string and a matrix of solar cells; making atleast a second measurement of atleast a second characteristic of atleast one of the string and the matrix, wherein atleast one of the string and the matrix comprising atleast said individual solar cell; comparing the measurements of the first characteristic and the second characteristic; and determining changes of atleast said individual solar cell and atleast one of the string and the matrix. L'invention porte sur un procédé et un système pour le suivi de caractéristiques d'au moins une pile photovoltaïque individuelle, durant un processus de fabrication. Le procédé comprend les étapes consistant à : réaliser au moins une première mesure d'au moins une première caractéristique de la pile photovoltaïque ; incorporer au moins ladite pile photovoltaïque individuelle dans au moins l'une d'une chaîne et d'une matrice de piles photovoltaïques ; réaliser au moins une seconde mesure d'au moins une seconde caractéristique d'au moins l'une de la chaîne et de la matrice, au moins l'une de la chaîne et de la matrice comprenant au moins ladite pile photovoltaïque individuelle ; comparer les mesures de la première caractéristique et de la seconde caractéristique ; et déterminer des changements d'au moins ladite pile photovoltaïque individuelle et d'au moins l'une de la chaîne et de la matrice.