DETECTING SURFACE STAINS USING HIGH ABSORBANCE SPECTRAL REGIONS IN THE MID-IR
Methods and systems for detecting the presence of a substance on a surface are provided. The method can include directing a modulated light beam (e.g., having a wavelength of about 3 µm to about 20 µm) from a light source to a beam expander such that the beam expander widens the diameter of the ligh...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | Methods and systems for detecting the presence of a substance on a surface are provided. The method can include directing a modulated light beam (e.g., having a wavelength of about 3 µm to about 20 µm) from a light source to a beam expander such that the beam expander widens the diameter of the light beam into an expanded beam. The expanded beam can then be directed onto the surface to form an illuminated area. A specular reflection can then be detected from the illuminated area on the surface in each light cycle, and the presence of the substance on the surface can be determined.
L'invention porte sur des procédés et sur des systèmes de détection de la présence d'une substance sur une surface. Le procédé peut comprendre la direction d'un faisceau de lumière modulé (par exemple, ayant une longueur d'onde comprise entre environ 3 µm et environ 20 µm) d'une source de lumière à un dilatateur de faisceau, de sorte que le dilatateur de faisceau élargit le diamètre du faisceau de lumière en un faisceau dilaté. Le faisceau dilaté peut ensuite être dirigé sur la surface pour former une zone éclairée. Une réflexion spéculaire peut ensuite être détectée à partir de la zone éclairée sur la surface dans chaque cycle de lumière, et la présence de la substance sur la surface peut être déterminée. |
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