HIGH TEMPERATURE CHUCK AND METHOD OF USING SAME

Improved resistance to temperature-related degradation or deformation in a wafer-supporting chuck is provided by at least one shielding member that physically and/or thermally shields chuck components from effects of elevated temperature processing fluids. L'invention concerne un procédé permet...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: LACH, OTTO, BRUGGER, MICHAEL
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Improved resistance to temperature-related degradation or deformation in a wafer-supporting chuck is provided by at least one shielding member that physically and/or thermally shields chuck components from effects of elevated temperature processing fluids. L'invention concerne un procédé permettant d'améliorer la résistance à la déformation ou à la détérioration liée à la température dans un mandrin porte-tranche. Le procédé consiste à utiliser au moins un élément de blindage qui protège physiquement et/ou thermiquement les composants du mandrin contre des effets de fluides de traitement présentant des températures élevées.