ENHANCED CONTROL IN SCAN TESTS OF INTEGRATED CIRCUITS WITH PARTITIONED SCAN CHAINS

A test controller implemented in an integrated circuit (IC) with partitioned scan chains provides enhanced control in performing scan tests. According to an aspect, a test controller can selectively control scan-in, scan-out and capture phases of scan tests for different scan chains of the IC to be...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: NAKIDI, SRUJAN, K, RAVI, SRIVATHS, HALES, ALAN, D, PAREKHJI, RUBIN, A, TIWARI, RAJESH, K
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A test controller implemented in an integrated circuit (IC) with partitioned scan chains provides enhanced control in performing scan tests. According to an aspect, a test controller can selectively control scan-in, scan-out and capture phases of scan tests for different scan chains of the IC to be independent. The number of pins required to interface the test controller with an external tester is less than the number of partitions that the test controller can support. According to another aspect, an IC includes a register corresponding to each partition to support transition fault (or LOS) testing. According to another aspect, an IC with partitioned scan chains includes serial to parallel and parallel to serial converters, thereby minimizing the external pins required to support scan tests. La présente invention se rapporte à un contrôleur de test mis en oeuvre dans un circuit intégré (CI) ayant des chaînes de balayage partitionnées. Ledit contrôleur de test offre un meilleur contrôle lors de la réalisation des tests de balayage. Selon un aspect, un contrôleur de test peut contrôler sélectivement le balayage d'entrée, le balayage de sortie et capturer des phases de tests de balayage pour différentes chaînes de balayage du circuit CI qui doit être indépendant. Le nombre de broches nécessaires pour mettre en interface le contrôleur de test avec un testeur externe est inférieur au nombre de partitions que peut supporter le contrôleur de test. Selon un autre aspect, un circuit CI comprend un registre correspondant à chaque partition pour supporter un test de défaut de transition (ou LOS). Selon un autre aspect, un circuit CI ayant des chaînes de balayage partitionnées comprend des convertisseurs série/parallèle ou parallèle/série, ce qui permet de réduire au minimum le nombre de broches externes nécessaires pour supporter des tests de balayage.