METHOD AND DEVICE FOR DETECTING HIDDEN OBJECTS BY MEANS OF ELECTROMAGNETIC MILLIMETER WAVES

Bei einem Verfahren zur Detektion von verdeckten Gegenständen mittels elektromagnetischen mm-Wellen, bei dem ein Prüfobjekt mit mm-Wellen bestrahlt wird und vom Prüfobjekt reflektierte mm-Wellen ausgewertet werden, werden die mm-Wellen beim Bestrahlen des Prüfobjekts auf verschiedene Tiefenschichten...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	JECK, MICHAEL, VOLZ, CLAUDIUS
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre ; ger
Schlagworte:	ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES DETECTING MASSES OR OBJECTS DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES GEOPHYSICS GRAVITATIONAL MEASUREMENTS INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION ORRERADIATION OF RADIO WAVES MEASURING PHYSICS RADIO DIRECTION-FINDING RADIO NAVIGATION TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	Bei einem Verfahren zur Detektion von verdeckten Gegenständen mittels elektromagnetischen mm-Wellen, bei dem ein Prüfobjekt mit mm-Wellen bestrahlt wird und vom Prüfobjekt reflektierte mm-Wellen ausgewertet werden, werden die mm-Wellen beim Bestrahlen des Prüfobjekts auf verschiedene Tiefenschichten (3, 4) des Prüfobjekts fokussiert. In a method for detecting hidden objects by means of electromagnetic millimeter waves, in which a test object is irradiated with millimeter waves and the millimeter waves that are reflected from the test object are evaluated, the millimeter waves are focused on different depth layers (3, 4) of the test object during the irradiation thereof. L'invention concerne un procédé de détection d'objets cachés au moyen d'ondes électromagnétiques millimétriques, qui consiste à exposer un objet à contrôler au rayonnement d'ondes millimétriques et à évaluer les ondes millimétriques réfléchies par l'objet à contrôler. Les ondes millimétriques sont concentrées sur différentes couches de profondeur (3, 4) de l'objet à contrôler lors de l'exposition de l'objet à contrôler.