METHOD FOR OPTIMIZING SPECTRAL PERFORMANCE OF SCINTILLATOR CRYSTALS

The invention provides a method for optimizing the spectroscopy performance of a spectroscopy scintillator by surrounding the scintillator by a reflector material, performing a scan measuring resolution and light output at three or more axial locations on the crystal, where at least one location is close to the PMT or below the crystal (near the PMT) at least one location is at the end away from the PMT of the scintillator), and adjusting the surface finish of the crystal and/or the reflector to obtain equal light output and optimal resolution over the length and different azimuth of the crystal. L'invention concerne un procédé d'optimisation des performances spectroscopiques d'un scintillateur pour spectroscopie, le procédé consistant à entourer le scintillateur d'un matériau réfléchissant, exécuter un balayage permettant de mesurer la résolution et le rendement lumineux à trois emplacements axiaux ou plus sur le cristal, au moins un emplacement étant proche du PM (photomultiplicateur) ou en dessous du cristal (à proximité du PM), au moins un emplacement étant à l'extrémité éloignée du PM du scintillateur, et ajuster le fini de surface du cristal et/ou du réflecteur pour obtenir un rendement lumineux équivalent et une résolution optimale sur la longueur et à différents azimuts du cristal.