SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING AN ATTITUDE OF A DEVICE UNDERGOING DYNAMIC ACCELERATION

A system and a method for determining an attitude of a device undergoing dynamic acceleration is presented. A first attitude measurement is calculated based on a magnetic field measurement received from a magnetometer of the device and a first acceleration measurement received from a first accelerom...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: CHEN, IAN, SHAW, KEVIN, A
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A system and a method for determining an attitude of a device undergoing dynamic acceleration is presented. A first attitude measurement is calculated based on a magnetic field measurement received from a magnetometer of the device and a first acceleration measurement received from a first accelerometer of the device. A second attitude measurement is calculated based on the magnetic field measurement received from the magnetometer of the device and a second acceleration measurement received from a second accelerometer of the device. A correction factor is calculated based at least in part on a difference of the first attitude measurement and the second attitude measurement. The correction factor is then applied to the first attitude measurement to produce a corrected attitude measurement for the device. La présente invention porte sur un système et sur un procédé permettant de déterminer une attitude d'un dispositif subissant une accélération dynamique. Une première mesure d'attitude est calculée sur la base d'une mesure de champ magnétique reçue d'un magnétomètre du dispositif et d'une première mesure d'accélération reçue d'un premier accéléromètre du dispositif. Une seconde mesure d'attitude est calculée sur la base de la mesure de champ magnétique reçue du magnétomètre du dispositif et d'une seconde mesure d'accélération reçue d'un second accéléromètre du dispositif. Un facteur de correction est calculé sur la base au moins en partie d'une différence entre ladite première mesure d'attitude et ladite seconde mesure d'attitude. Le facteur de correction est ensuite appliqué à la première mesure d'attitude afin d'obtenir une mesure d'attitude corrigée pour le dispositif.