METHOD OF CALIBRATING A WAVELENGTH-MODULATION SPECTROSCOPY APPARATUS
Several methods of calibrating a wavelength-modulation spectroscopy apparatus configured to measure a concentration of an analyte in a sample gas are disclosed. Each of the methods allows for calibration and recalibration using a relatively safe gas regardless of whether the sample gas for which the...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | Several methods of calibrating a wavelength-modulation spectroscopy apparatus configured to measure a concentration of an analyte in a sample gas are disclosed. Each of the methods allows for calibration and recalibration using a relatively safe gas regardless of whether the sample gas for which the concentration of the analyte can be determined is a hazardous gas. In one embodiment of the invention, calibration that is sample-gas specific is accomplished by determining a first slope coefficient and calibration function for the sample gas, after which a scaling factor can be determined based on the first slope coefficient and a second slope coefficient for the same or a different sample gas and used in a subsequent calibration (or recalibration) to scale the calibration function. In other embodiments of the invention, calibration that is not sample-gas specific is accomplished to allow for the determination of the analyte concentration in variable gas compositions and constant gas compositions.
L'invention porte sur plusieurs procédés d'étalonnage d'un appareil de spectroscopie à modulation en longueur d'onde, configuré pour mesurer une concentration d'une substance à analyser dans un gaz échantillon. Chacun des procédés permet l'étalonnage et le réétalonnage à l'aide d'un gaz relativement sûr, indépendamment du fait que le gaz échantillon pour lequel la concentration de la substance à analyser peut être déterminée peut être un gaz dangereux ou non. Dans un mode de réalisation de l'invention, l'étalonnage qui est spécifique au gaz échantillon est accompli par la détermination d'un premier coefficient de pente et d'une fonction d'étalonnage pour le gaz échantillon, après quoi un facteur de mise à l'échelle peut être déterminé sur la base du premier coefficient de pente et d'un second coefficient de pente pour le même gaz échantillon ou un gaz échantillon différent, et utilisé dans un étalonnage ultérieur (ou réétalonnage) pour mettre à l'échelle la fonction d'étalonnage. Dans d'autres modes de réalisation de l'invention, l'étalonnage qui n'est pas spécifique au gaz échantillon est accompli pour permettre la détermination de la concentration en substance à analyser dans des compositions gazeuses variables et des compositions gazeuses constantes. |
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