SYSTEMS AND METHODS FOR PREDICTING MAINTENANCE OF INTELLIGENT ELECTRONIC DEVICES

Predictive maintenance systems and methods are described. A method includes measuring environmental conditions using a plurality of sensors within the IED, processing the environmental measurements to determine long-term exposure factors representing historical operating conditions of the IED, applying a reliability model to the long-term exposure factors, determining a numerical measure of IED life based on the long-term exposure factors and the reliability model, comparing the numerical measure of IED life to preselected boundary values, and signaling if the numerical measure of IED life is outside of the preselected boundary values. L'invention concerne des systèmes et des procédés d'entretien anticipé. Un procédé selon l'invention consiste : à mesurer des conditions environnementales au moyen d'une pluralité de capteurs à l'intérieur du dispositif électronique intelligent (DEI); à traiter les mesures environnementales pour déterminer des facteurs d'exposition à long terme représentant les conditions d'exploitation historiques du DEI; à appliquer un modèle de fiabilité sur les facteurs d'exposition à long terme; à déterminer une mesure numérique de durée de vie de DEI en fonction des facteurs d'exposition à long terme et du modèle de fiabilité; à comparer la mesure numérique de durée de vie de DEI à des valeurs limites présélectionnées; et à signaler, si tel est le cas, que la mesure numérique de durée de vie de DEI se trouve en dehors des valeurs limites présélectionnées.