SECTION SIMULATOR FOR SIMULATING A SECTION OF AN OBJECT AND METHOD FOR ASSISTING CALIBRATION OF A PROFILER

A section simulator for simulating a section of an object comprising a supporting frame, a displacement mechanism mounted to the supporting frame and displaceable in at least two dimensions, a reference element mounted to the displacement mechanism and actuating means for actuating the displacement...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: LEGENDRE, LUDOVIC, DROLET MIHELIC, YAN, DEMERS, DANIEL
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A section simulator for simulating a section of an object comprising a supporting frame, a displacement mechanism mounted to the supporting frame and displaceable in at least two dimensions, a reference element mounted to the displacement mechanism and actuating means for actuating the displacement mechanism in the at least two dimensions The section simulator also comprises a control unit coupled to the actuating means for controlling an actuation of the displacement mechanism so as to enable a movement of the reference element according to a predetermined path representative of the section of the object to simulate and acquisition means for acquiring measurement data representative of a plurality of positions of the reference element to thereby simulate the section of the object. A method for assisting calibration of a profiler used for imaging sections of an object is also disclosed. L'invention concerne un simulateur de coupe conçu pour simuler une coupe d'un objet, le simulateur comprenant un bâti-support, un mécanisme de déplacement monté sur le bâti-support et susceptible d'être déplacé dans au moins deux dimensions, un élément de référence monté sur le mécanisme de déplacement et des moyens actionneurs conçus pour actionner le mécanisme de déplacement dans les deux dimensions. Le simulateur de coupe comprend également un module de commande couplé aux moyens actionneurs et conçu pour commander l'actionnement du mécanisme de déplacement et permettre ainsi le mouvement de l'élément de référence suivant un trajet prédéfini représentant la coupe de l'objet à simuler ; et des moyens d'acquisition conçus pour acquérir des données de mesure représentant une pluralité de positions de l'élément de référence de manière à simuler ainsi la coupe de l'objet. L'invention concerne également un procédé d'aide au calibrage d'un appareil à profiler utilisé pour l'imagerie de coupes d'un objet.