SYSTEM AND METHOD FOR PERFORMING A RUGGEDNESS MEASUREMENT TEST ON A DEVICE UNDER TEST

A system and method for performing a ruggedness measurement test on a device under test (DUT) uses a first impedance creating device and a second impedance creating device, which are connected to the DUT via a coupler, to produce a combined reflection signal that corresponds to a total reflection co...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: VOLOKHINE, IOURI
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:A system and method for performing a ruggedness measurement test on a device under test (DUT) uses a first impedance creating device and a second impedance creating device, which are connected to the DUT via a coupler, to produce a combined reflection signal that corresponds to a total reflection coefficient suitable for a ruggedness measurement of the DUT. The first impedance creating device is configured to produce a first reflection signal that corresponds to a first reflection coefficient. The second impedance creating device is configured to produce a second reflection signal that corresponds to a second reflection coefficient. Each of the first and second impedance creating devices is adjustable with respect to impedance to produce the respective reflection signal. The first and second reflection signals are combined by the coupler to produce the combined reflection signal that corresponds to the total reflection coefficient. Système et procédé destinés à effectuer un test de mesure de robustesse sur un dispositif en cours de test (DUT), utilisant un premier dispositif générateur d'impédance et un deuxième dispositif générateur d'impédance reliés au DUT via un coupleur, pour produire un signal combiné de réflexion correspondant à un coefficient de réflexion total convenant à une mesure de robustesse du DUT. Le premier dispositif générateur d'impédance est configuré de façon à produire un premier signal de réflexion correspondant à un premier coefficient de réflexion. Le deuxième dispositif générateur d'impédance est configuré de façon à produire un deuxième signal de réflexion correspondant à un deuxième coefficient de réflexion. Chacun des premier et deuxième dispositifs générateurs d'impédance peut être réglé en termes d'impédance pour produire le signal de réflexion associé. Le premier et le deuxième signal de réflexion sont combinés par le coupleur pour produire le signal combiné de réflexion correspondant au coefficient de réflexion total.