METHOD AND ARRANGEMENT FOR MEASURING THE SHAPE OF ELECTRICALLY CONDUCTIVE OBJECTS
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Messung der Form elektrisch leitender Objekte (1, 1a, 1b, 1c, 1d). Das Verfahren umfasst die Schritte: Anordnen eines Objekts (1, 1a, 1 b, 1c, 1d) in einem elektromagnetischen Wechselfeld, Bewegen des Objekts (1, 1a, 1b, 1c, 1d) relativ zu...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anordnung zur Messung der Form elektrisch leitender Objekte (1, 1a, 1b, 1c, 1d). Das Verfahren umfasst die Schritte: Anordnen eines Objekts (1, 1a, 1 b, 1c, 1d) in einem elektromagnetischen Wechselfeld, Bewegen des Objekts (1, 1a, 1b, 1c, 1d) relativ zu dem elektromagnetischen Wechselfeld und/oder umgekehrt, Erfassen von Messsignalen, die durch die Relativbewegung erzeugt werden, und Auswerten der Messsignale zur Bestimmung der Form des Objekts.
The invention relates to a method and an arrangement for measuring the shape of electrically conductive objects (1, 1a, 1b, 1c, 1d). The method further comprises the following steps: disposing an object (1, 1a, 1b, 1c, 1d) in an electromagnetic alternating field, moving the object (1, 1a, 1b, 1c, 1d) relative to the electromagnetic alternating field, and/or vice versa, detecting measurement signals generated by the relative movement, and analyzing the measurement signals for determining the shape of the object.
L'invention concerne un procédé et un dispositif de mesure de la forme d'objets électroconducteurs (1, 1a, 1b, 1c, 1d). Le procédé comprend les étapes suivantes : disposition d'un objet (1, 1a, 1b, 1c, 1d) dans un champ alternatif électromagnétique; déplacement de l'objet (1, 1a, 1b, 1c, 1d) par rapport au champ alternatif électromagnétique et/ou inversement; détection de signaux de mesure qui sont générés par le déplacement relatif; et évaluation des signaux de mesure pour la détermination de la forme de l'objet. |
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