PROBE PIN

Provided is a probe pin, in which an insulator having a conducting needle inserted at its center is enclosed at its outer circumference by external conductors arranged concentrically with the conducting needle, and through holes extending in the axial direction of the conducting needle are formed in...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: FUKUSHI, SEIICHI, KOBAYASHI, YUUJI, FUJII, MASANORI, KANEKO, TAKASHI, WADA, MAKOTO, AKABANE, AKIHIKO, YAMAMOTO, TAKUMI, KOIKE, NAOTO, ZUSHI, TOSHIHIRO
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:Provided is a probe pin, in which an insulator having a conducting needle inserted at its center is enclosed at its outer circumference by external conductors arranged concentrically with the conducting needle, and through holes extending in the axial direction of the conducting needle are formed in the insulator. Preferably, the through holes are formed at a plurality of portions around the conducting needle. Thus, the probe pin can be used in a higher frequency range. L'invention concerne une broche d'essai qui comprend un isolateur au centre duquel est insérée une aiguille conductrice et dont la circonférence extérieure est composée de conducteurs externes disposés de manière concentrique autour de l'aiguille conductrice, ainsi que des trous traversants qui s'étendent dans le sens axial de l'aiguille conductrice et qui sont formés dans l'isolateur. Les trous traversants sont de préférence formés dans une pluralité de parties autour de l'aiguille conductrice. Par conséquent, la broche d'essai peut être utilisée dans une plage de fréquence plus élevée.